suncitygroup太阳新城功率半导体老化测试系统

suncitygroup太阳新城功率半导体老化测试系统是一款针对半导体产品方向的做高温反偏，栅极反偏老化测试设备，用以评估功率半导体的可靠性。

采样速率高

数据直观

保护使用者安全

ms级数据自动储存

基础参数

产品型号

NEPS-HTB2000015-V001

高压源

范围：0~2000V
精度：0.1%+100mV

HTGB:IGES(IGDS)

范围：0.1nA~15mA
精度 0.5%±2LSB
分辨率：10pA

HTRB/H3TRB:ICES(IDSS)

范围：1μA~10mA
精度：0.5%±2LSB
分辨率：1μA

温箱温度范围

(环境温度+20)℃～+300℃

温箱波动度

≤100℃时：0.4℃
≤200℃时：0.4℃
≤300℃时：0.8℃

温箱温度偏差

≤100℃时：±1.5℃
≤200℃时：±2.0℃
≤300℃时：±3.0℃

电源分区

最大支持8个电源分区

交流输入

电压:220±10%
频率:50/60Hz±3Hz

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